Multibit memory testing device

多ビットメモリ試験装置

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multibit memory testing device testing a multibit memory having data input terminals of the number larger than the bit width of pattern data to be generated by a pattern generator simply and surely. SOLUTION: Pattern data storage units 111A∼111N of the number corresponding to the number of data input terminals of a multibit memory are provided at the front stage of data waveform generators 104. Address storage units storing addresses of the data input terminals and coincidence detectors are provided in respective pattern data storage units 111A∼111N and the writing of a data pattern to an arbitrary pattern data storage unit and the applying of an arbitrary pattern on the multibit memory are made possible by outputting the pattern data of one bit and an address instructing the data input terminal into which the data pattern is to be fed from a pattern generator 101.
(57)【要約】 【課題】 パターン発生器が発生するパターンデータの ビット幅より大きい数のデータ入力端子を持つ多ビット メモリを簡単、確実に試験する多ビットメモリ試験装置 を提供する。 【解決手段】 多ビットメモリのデータ入力端子の数に 対応した数のパターンデータ記憶器をデータ波形発生器 の前段に設ける。パターンデータ記憶器にデータ入力端 子のアドレスを記憶するアドレス記憶器と、一致検出器 とを設け、パターン発生器から1ビットのパターンデー タと、そのパターンデータを送り込むデータ入力端子を 指示するアドレスを出力することにより、任意のパター ンデータ記憶器にパターンデータを書込み、多ビットメ モリに任意のパターンを与えることを可能とした。

Claims

Description

Topics

Download Full PDF Version (Non-Commercial Use)

Patent Citations (0)

    Publication numberPublication dateAssigneeTitle

NO-Patent Citations (0)

    Title

Cited By (0)

    Publication numberPublication dateAssigneeTitle